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低温试验

低温试验

低温试验主要用于评价产品在储存、工作和拆装操作期间,低温条件对装备在安全性、完整性和性能的影响。试验的严苛程度取决于低温的温度和暴露持续时间。...

项目简介

项目名称:

低温试验

检测目的:

检测产品在温度反复变化的情况下,产品性能是否会发生改变,或者是否会加速老化。耐高低温性能,耐老化性能,防尘防水性能等等。

测试范围:

计算机类:电脑、显示屏、主机、电脑元器件、医疗设备等精密仪器等;电子通信类:手机、射频器、电子通信元器件等。电器类:家电、灯具、变电器等各类家电电器设备;其他:包装箱、运输设备等。

低温试验项目介绍:

低温试验主要用于评价产品在储存、工作和拆装操作期间,低温条件对装备在安全性、完整性和性能的影响。试验的严苛程度取决于低温的温度和暴露持续时间。主要用于科研研究、医辽用品的保存、生物制品、远洋制品、电子元件、化工材料等特殊材料的低温实验及储存。

低温试验

低温试验GB2423.1-2008

一、主题内容与适用范围

本标准规定了电工电子产品基本环境试验规程试验A:低温试验方法。

本标准适用于非散热和散热的电工电子产品(包括元件、设备及其他产品)的低温试验。

二、概述

1.本标准于用来考核或确定电工、电子产品在低温环境条件下贮存和(或)使用的适应性,而不能用来评价试验样品在温度变化期的耐抗性和工作能力,这时应当采用GB2423.22《电工电子产品基本环境试验规程 试验N:温度变化试验方法》。

2.本试验方法通常用在条件试验期间能达到温度稳定的试验样品。

低温试验时,是将具有室温的试验样品投入试验。当试验样品实际上是和某种特定的安装架一起使用时,则试验时就应使用这些安装架。

试验持续时间是从试验样品达温度稳定时开始计算;特殊情况下,如果条件试验期间试验样品达不到温度稳定,则试验持续时间从试验箱(室)达到规定试验温度时开始计算。

三、低温试验方法分类及方框图

A.低温试验方法分为:

1.非散热试验样品低温试验:

试验Aa:温度突变

试验Ab:温度浙变

2.散热试验样品低温试验:

试验Ad:温度浙变

B.低温试验方法分类的方框图如下:

低温试验

方法和常用标准

检测项目 测试标准 样品要求
低温试验 GB/T 2423.1-2008 只测:温度范围:-40℃~+5℃
尺寸:1×1×1m
IEC 60068-2-1-2007

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